设备重量
1000KG
设备功率
2.5KW , AC220
尺寸
◆W1200mm×D1100mm×H1850mm
UPH
单工位:UPH>2500pcs/H ( 20pcs/1料盘, 10%灰尘率)
预留双工位,UPH>5000pcs/H
检查内容
二维表面的晶圆中的物理缺陷检测:
检测精度:0.6um
内部裂纹、Particle、组件缺失、分层、芯片脱落、划痕、污点、碎裂、锯线、异物、晶片剥落、不完整的切割道、图案缺陷等
设备配置
◆自动检查、 准确识别
◆干法清洁, 无残留、 无污染
◆ 1 μ以上可动灰尘除去率 >99.5%
◆精确定位灰尘坐标、 定向清除
应用行业
◆半导体(光学模组, 芯片)
◆封测行业(sensor、 IR片、 IC封测、 指纹模组除尘;引线键合检查)
◆玻璃盖板
◆电子通讯, 其它对无尘环境要求高的产品
◆8~12 inch (裸晶圆/框架晶圆/玻璃晶圆)